德國SICK無浮標(biāo)開關(guān)KT10W-2P1115S03

例如由于半透明表面或多層薄層，究竟是對物體具有測量能力，還是結(jié)果會受到物理效應(yīng)的顯著影響

德國SICK無浮標(biāo)開關(guān)KT10W-2P1115S03

例如由于半透明表面或多層薄層，究竟是對物體具有測量能力，還是結(jié)果會受到物理效應(yīng)的顯著影響？
 如何處理表面上的沉積物（如油、灰塵、切屑等）？由于與機械測量裝置不同，定義的壓力不影響表面，是否需要過濾機制？
 由于機械測量裝置的測量點通常遠大于光學(xué)測量裝置，光學(xué)測量裝置的測量結(jié)果必須在較大的面積內(nèi)進行平均
從機械測量裝置更換為光學(xué)測量裝置可能需要一定的開銷。但另一方面也會獲得長期的**，例如成本節(jié)約，吞吐量增加，對測試
物體沒有機械影響，并且每個流程步驟的質(zhì)量都有所提*。
測量方法的主要**比較
機械 光學(xué)
成熟可靠，一般在標(biāo)準中說明 無損
在臟污情況下對測量結(jié)果影響較小 快速
SMC CM2B40-60Z
 TU0805BU-20
 TU1065BU-20

 ZSE30A-01-P-L 1
 MGPM50-100AZ-M9PL
 AC40C-04DG-V-A 
 KQ2U16-00A
 MGPM16-10Z 
 KQ2E08-01A
 KQ2T08-00A
 KQ2T10-08A
 KQ2S08-01AS
CDM2E40-75Z 
CDM2WB25-75Z 
MDB1B63-50Z 
MDB1B80-125Z 
 SMC AD402-04
 SMC VFS3220-5D-02 
VT307-5DZ1-01F-F-Q  
哈威PMVP4-42/G24
  柱塞泵_R2.5A
Burkert 00562638 
寶德/Burkert 000178608
寶德/Burkert 00432304 
寶德/Burkert 00300029
寶德/Burkert 00183269
寶德/Burkert 00134345
德/Burkert 00466588